Journée SFT
Groupe "Transferts Interfaciaux" et CERTeM
Organisateur : N. SEMMAR,
GREMI, Orléans, 18 Novembre 2011
"Caractérisation thermo-physique et applications microélectroniques"
Programme
Présentation du CERTeM et Introduction à l’assemblage ‘packaging’ 3D en microélectronique et problématiques thermiques associées.
CHRISTOPHE SERRE, Packaging Engineering & Development Manager, STMicroelectronics, Tours
Caractérisation thermique de matériaux rentrant dans l'élaboration de mémoire à changement de phase,
J-L BATTAGLIA, A. KUSIAK, V. SCHICK, C. ROSSIGNOL, C. WIEMER, I2MTREFLE, Université de Bordeaux
Mesure de conductivité thermique des matériaux par résistances électriques thermosensibles: application à la microélectronique,
B. BELKERK, M. CARETTE, A. SOUSSOU, A. DJOUADI, Y. SCUDELLER, LGMPA-IMN, Université de Nantes
Caractérisation de surfaces complexes pour la microélectronique par pyro/réflectométrie rapide : cas des drains de NTC et du Si mesoporeux,
E. AMIN-CHALHOUB, M. GAILLARD, A. PETIT, C. BOULMER-LEBORGNE, N. SEMMAR, GREMI, Université d’Orléans.
Caractérisation de propriétés thermophysiques locales: application aux nanostructures, milieux nanostructurés et interfaces,
SEVERINE GOMES, PATRICE CHANTRENNE, STEPHANE LEFEVRE, CETHIL-INSA de Lyon.
Caractérisation et modélisation des propriétés thermiques de milieux hétérogènes,
D. ROCHAIS, S. CHUPIN, M. NIEZGODA, CEA-Le-Rippault
Caractérisation thermique d'émetteurs électro-optiques: des matériaux aux assemblages,
M.El-GIBARI, C.LUPY, Y.SCUDELLER, J.P LANDESMAN, LGMPA-IMN, Université de Nantes
Caractérisation de couches minces et complexes ou nanostructurées par spectroscopieinfrarouge,
D. DE SOUZA, CEMHTI-CNRS-Université d’Orléans
Formation de jonctions ultraminces dans un substrat Si : Br par lasers nanosecondes : Contrôle par réflectométrie temps réels et validation par spectroscopie
TOF-SIMS, M. DARIF, E. MILLION, H. ETIENNE, P. DELAPORTE, N. SEMMAR, GREMI, Orléans
