Journée « Contrôle non destructif et caractérisation de défauts »
Salon MESUREXPOVISION
Paris Porte de Versailles, Hall 1
Jeudi 25 octobre 2012
Salle bleue
Comité d’organisation : Jean-Luc Bodnar (Université de Reims Champagne Ardenne, Reims)
et Jean-Claude Mialocq (CEA Saclay, DSM/IRAMIS/SIS2M)
Pour plus d’informations : http://sfp.in2p3.fr/expo/
Formulaire d'inscription
