Caractérisation thermique de couches minces par une méthode opto-électrothermique : étude de l’influence des biais et des non-idéalités expérimentales.
Le contexte de ce travail est celui de la caractérisation thermique de couches minces diélectriques, dont l’usage est à visée microélectronique (dissipateurs passifs, cellules photovoltaïques, …) ou électrotechnique (isolants diélectriques pour le transport de puissance, …). Il s’inscrit en continuité de travaux précédents [1,2] sur le développement d’une méthode impulsionnelle « opto-électrothermique », basée sur la classe des méthodes Flash.