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Caractérisation thermique et échelle d'observation
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Titre de l'actualité 29/06/10 : Journée SFT : Plaine Saint-Denis

SOCIETE FRANÇAISE DE THERMIQUE
Groupe «Hautes Températures »

Journée Thématique organisée par
Mohamed Sadli (LNE-Cnam), Ronan Morice (LNE), Christophe Journeau (CEA)

29 juin 2010 à 9h30
(Accueil à partir de 9h)
à
LNE-Cnam - 61 rue du landy, 93210 Saint-Denis (plan d'accès)
Salle A-215

 

"Mesure des Hautes Températures par Capteurs Intrusifs"

Pour mesurer les hautes températures, les mesures sans contact (pyrométrie, thermographie, etc.) sont fréquemment utilisées. Elles ne permettent pas de connaître la température au sein de matériaux ou de fluides opaques. Les mesures intrusives n’ont pas cet inconvénient mais les conditions extrêmes de mesure posent de nombreux problèmes (compatibilité de matériaux, mauvaise isolation électrique, tenue mécanique, perturbation du champ thermique par le capteur,….)
L’objectif de cette journée est de passer en revue les besoins des utilisateurs, les défis rencontrés ainsi que les solutions mises en œuvre dans les installations de recherche ou à l’étude.
Cette journée permettra vraisemblablement de définir des axes de recherches pouvant donner lieu à de futures études dans le cadre du thème Hautes Températures du Groupement de Recherches AMETh (Amélioration des Transferts Thermiques).

La journée d’études se déroulera le 29 juin 2010 au Cnam (Laboratoire Commun de Métrologie LNE-Cnam, La plaine Saint-Denis) et donnera lieu à une visite d’installations de thermométrie.

La date limite d’inscription est fixée au 15 juin 2010

  • La date limite d’inscription est fixée au 15 juin 2010

Télécharger le programme de la journée

 

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